銀層膜厚儀

產(chǎn)品介紹

銀層膜厚儀主要檢測(cè)金屬鍍層銀層厚度，同時(shí)可以測(cè)試金層，鎳層，鋅層等鍍層厚度，快速、無(wú)損，得到了客戶(hù)的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成

標(biāo)準(zhǔn)配置

X射線(xiàn)管，正比記數(shù)盒，高清攝像頭，高度激光，信號(hào)檢測(cè)電子電路。

銀層膜厚儀性能特點(diǎn)

專(zhuān)業(yè)貴金屬檢測(cè)

智能貴金屬軟件，與儀器相得益彰

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

多變量非線(xiàn)性回收程序

銀層膜厚儀技術(shù)指標(biāo)

X射線(xiàn)激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線(xiàn)管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線(xiàn)管：管電壓50KV，管電流1mA 

可測(cè)元素：Ti～U 

檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管 

樣品觀察：CCD攝像頭

測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線(xiàn)法 

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm