鍍層測厚儀是一種用于測量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器，廣泛應用于制造業、質量檢測等領域。鍍層測厚儀通過不同的物理原理來測量涂層的厚度，常見的原理包括磁性感應原理、渦流原理和X射線熒光原理。磁性感應原理適用于測量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，渦流原理適用于測量導電性涂層在導電性基材上的厚度，X射線熒光原理則通過測量被激發出的熒光X射線的能量和強度來確定鍍層的元素組成和厚度。1、磁性感應原理：利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。覆層越厚，則磁阻...

國產固定道WDXRF與進口WDXRF在硅基材料分析中的對比與應用推薦波長色散X射線熒光光譜儀（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一種廣泛應用于材料分析的技術，尤其在硅基材料（如半導體、玻璃、硅片等）中具有重要作用。進口WDXRF設備雖然在性能上表現優異，但成本較高，而國產固定道WDXRF近年來發展迅速，在許多應用場景中已能滿足實際需求。本文通過對比國產固定道WDXRF與進口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表現，并結合實...

X射線熒光光譜儀原理及主要技術指標對比X射線熒光光譜儀（簡稱：XRF）X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發而引起內...

RoHS2.0檢測儀是根據歐盟RoHS指令(即《關于限制在電子電氣設備中使用某些有害成分的指令》2.0版本)要求而設計的，用于檢測電子電氣產品中的有害物質含量，確保產品符合環保標準。這些有害物質主要包括鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯和多溴二苯醚等。RoHS2.0檢測儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)、氣相色譜-質譜聯用法(GC-MS)等分析方法。X射線熒光光譜法(XRF)：利用高能X射線激發樣品中的元素，使其產生特征熒光。通過測量這些熒光的強度，可以計算出樣品中各元...

精度保障1、檢測技術ROHS2.0十項檢測儀采用X射線光譜儀檢測金屬元素，通過分析元素對X射線的吸收或發射特征來確定元素種類和含量。這種技術對于低濃度的金屬元素檢測具有較高的靈敏度。在檢測微量的鉛元素時，能夠準確區分出其在樣品中的含量波動。2、精密的校準系統ROHS2.0十項檢測儀配備精密的校準系統。通過使用標準物質進行定期校準，確保儀器的檢測結果準確無誤。在檢測汞含量時，使用含已知濃度汞的標準溶液，使儀器能夠準確識別并量化樣品中的汞含量。3、優化的檢測流程從樣品的采集、制備...